![\"Messtechnik](\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2021\/02\/Messtechnik-lebt.jpg\")
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Z<\/strong><\/em>um f\u00fcnften Mal hat das Institut f\u00fcr Produktionsmesstechnik Werkstoffe und Optik (PWO) mit seinem Leiter Prof. Dr. Ing. Claus Keferstein die alle zwei Jahre stattfindende Tagung organisiert, diesmal unter dem Motto \u00abNeue Wege gehen \u2013 Werte schaffen\u00bb. Auf neues Terrain wagte sich auch der Veranstalter mit einem attraktiven Tagungskonzept. Parallel zu den Fachvortr\u00e4gen fand eine Ausstellung statt, die fast an die Bedeutung der Basler Messe \u00abProdex\u00bb heranreichte. Die Ausstellerliste umfasste 54 f\u00fchrende Messtechnik-Hersteller. Neu in diesem Jahr war, dass am 2. Tag der Tagung die Aussteller selber Kurzvortr\u00e4ge hielten, Usermeetings veranstalteten und ihre Produkte pr\u00e4sentierten \u2013 f\u00fcr die Fachbesucher, Messtechniker aus der Schweiz, \u00d6sterreich und Deutschland, eine ideale Plattform, um ihr Wissen zu vertiefen<\/p>\n <\/p>\n In den zahlreichen Fachvortr\u00e4gen standen Themen wie die Koordinaten- und Oberfl\u00e4chenmesstechnik sowie die Beschichtungsmesstechnik und Prozessoptimierung im Mittelpunkt. Eingeleitet von Berichten \u00fcber aktuelle Trends folgten vertiefte Ausf\u00fchrungen von Spezialisten in Parallelworkshops.<\/p>\n Praktisch gefragt<\/strong><\/p>\n <\/p>\n In seiner Einf\u00fchrung ging Prof. Claus Keferstein gleich zur Sache und fragte: \u00abIst schnelles und genaues Messen preiswert und prozessnahes Messen teuer? Oder erg\u00e4nzt sich das? Muss man manchmal schnell messen, aber nicht so genau?\u00bb Fragen also, die den Praktiker t\u00e4glich besch\u00e4ftigen. Keferstein doppelte bezogen auf das<\/p>\n <\/p>\n Qual der Wahl<\/strong><\/em><\/p>\n <\/p>\n magische QM-Dreieck nach: \u00abMan kann nicht alles haben, wenn die Qualit\u00e4t hoch sein soll, dann kostet das Geld und man braucht Zeit. Wenn ich die Qualit\u00e4t geringer mache, kann ich die Kosten senken oder die Zeit verk\u00fcrzen. Oder ich muss schneller messen, dann kostet das, aber alle drei kann ich nicht haben.\u00bb<\/p>\n <\/p>\n Solche Widerspr\u00fcche sind von erheblicher Relevanz f\u00fcr die Messtechnik in den Betrieben. Sie m\u00fcssen sich st\u00e4ndig fragen: Wo braucht man was? Der Kunde verlange 100 Prozent gute Werkst\u00fccke. Gleichzeitig steige der Kostendruck durch schnelleres Umr\u00fcsten und Fertigen und die Lieferfristen w\u00fcrden bei kleineren Losgr\u00f6ssen immer k\u00fcrzer. All das habe enorme Auswirkungen auf den Messund Pr\u00fcfaufwand. Im Kern komme es, so Keferstein, auf die Art von Pr\u00fcfprozessen an, wie der Messtechniker seinen Aufgaben gerecht werden kann. Hier hat er heute die Qual der Wahl. Ger\u00e4te der Koordinaten- und Mehrstellenmesstechnik, Bezugsfl\u00e4chenund Oberfl\u00e4chenmessger\u00e4te, L\u00e4ngenregelung: Sie decken eine breite Palette zwischen genau, schnell und kosteng\u00fcnstig ab.<\/p>\n <\/p>\n Was bedeutet \u00abgenau\u00bb?<\/strong><\/em><\/p>\n <\/p>\n Entspannter k\u00f6nne man die Aufgaben angehen, wenn man den Begriff \u00abGenauigkeit\u00bb unter die Lupe nimmt, meinte Keferstein. Im Grund gehe es doch darum, eine Funktion sicherzustellen. F\u00fcr dieses Funktionsmerkmal wird ein passendes Pr\u00fcfmerkmal gesucht. Mehrdeutigkeiten sind dabei verh\u00e4ngnisvoll. Was n\u00fctzen unz\u00e4hlige Messdaten, wenn das Produkt trotzdem nicht funktioniert? Keferstein: \u00abDie Korrelation zwischen Pr\u00fcf- und Funktionsmerkmal muss stimmen, und dann kommt erst das zweite, n\u00e4mlich wie kann ich dieses Pr\u00fcfmerkmal messen?\u00bb<\/p>\n <\/p>\n Hier spielt die Unterscheidung von absoluter Genauigkeit und Wiederholgenauigkeit eine wichtige Rolle. Die absolute Genauigkeit dient zur Abnahme durch den Kunden, zugesicherte Eigenschaften des Produkts werden gepr\u00fcft. Neben einem r\u00fcckgef\u00fchrten Normal braucht man dazu genaue Kenntnisse der Umgebungsbedingungen wie Temperatur und Schwingungen, denn die haben Einfluss auf die Messunsicherheit. Und diese sei immer \u00abaufgabenspezifisch\u00bb, so Keferstein. F\u00fcr Absolutmessungen liegt die Latte hoch: Sie m\u00fcssen weltweit reproduzierbar sein, also bei VW in Brasilien genauso gelten wie im Wolfsburger Stammwerk.<\/p>\n <\/p>\n Anders liegt der Fall bei der Wiederholgenauigkeit. Bei ihr darf man nicht von Messunsicherheit sprechen. Keferstein: \u00abDa blicke ich nur auf den Prozess. Hier geht es darum, wie stabil der Prozess ist, und das ist eine firmenspezifische Angelegenheit.\u00bb Ist der Prozess einmal eingestellt, kann mit Wiederholgenauigkeit einfach und preiswert festgestellt werden, ob ein Werkst\u00fcck bzw. sein Funktionsmerkmal davondriftet.<\/p>\n In der Produktion messen<\/strong><\/p>\n <\/p>\n Der Trend, die Messtechnik immer n\u00e4her an die Produktion zu bringen, hat in den letzten Jahren enorm zugenommen. Der klassische Messraum weit weg vom direkten Prozess d\u00fcrfte in Zukunft nur noch eine untergeordnete Rolle spielen. Keferstein zeigte viele Beispiele von praktischen Anwendungen: F\u00fcr Messtechnik im Herstellprozess, Messen am Prozess, prozessnahes Messen f\u00fcr Stichprobenpr\u00fcfungen und Spezifikationen<\/p>\n <\/p>\n Die Herausforderung in den n\u00e4chsten Jahren sieht Kefstein bei den Pr\u00fcfprozessen in der Herstellung, denn in diesem Bereich k\u00f6nne man absolut oder auch wiederholgenau messen. Immer mehr moderne Messverfahren suchen hier nach optimalen L\u00f6sungen. Ob Optische Sensoren, Streulicht oder Equator, Unrund-Messungen an Werkzeugmaschinen oder prozessnahe Sonderbauformen von Koordinatenmessger\u00e4ten, Kefersteins Fazit: Hohe Qualit\u00e4t, extrem kurze Zeiten im Prozess und preiswert m\u00fcssen nicht l\u00e4nger ein zwingender Widerspruch sein: \u00abMan muss nur die richtige Strategie und die richtigen Messverfahren einsetzen.\u00bb MesstechnikKnow-how sei heute der Schl\u00fcssel zu preiswerten und qualitativ hochwertigen Produkten.<\/p>\n <\/p>\n Taktil oder optisch?<\/strong><\/p>\n <\/p>\n \u00dcber die Trends der Oberfl\u00e4chenmesstechnik referierte mit Tobias Hercke, Verantwortlicher f\u00fcr die Oberfl\u00e4chenmesstechnik bei der Daimler AG, ein gestandener Praktiker. Aus Anwendersicht komme es darauf an, dass die Oberfl\u00e4che eines Bauteils ihre Funktion erf\u00fcllt. Den Funktionsbezug sicherzustellen, sei daher die Hauptaufgabe der Messtechnik.<\/p>\n <\/p>\n Hercke hat dazu aufgrund seiner langen Erfahrungen seine \u00abeigene Philosophie\u00bb entwickelt: \u00abEine Oberfl\u00e4che besteht aus der Summe ihrer Strukturelemente.\u00bb Wobei den Erhebungen, Riefen und Vertiefungen bestimmte Eigenschaften, vertikal und lateral im \u00b5m-Bereich zugeordnet werden. Damit sei er immer gut gefahren, betonte er.<\/p>\n <\/p>\n In seinem Vortrag widmete er sich vor allem der Frage, ob profiloder fl\u00e4chenhaftes, also taktiles oder optisches Messen von Vorteil sei. In einer Bestandsaufnahme<\/p>\n <\/p>\n Profilhaft ist der Standard<\/strong><\/em><\/p>\n <\/p>\n verglich er die St\u00e4rken und Schw\u00e4chen beider Verfahren. Vom Anwenderstatus her sei profilhaftes Messen ein \u00abButter-und-BrotMessverfahren\u00bb, in vielen Industriezweigen die Basis zur Bewertung von Qualit\u00e4t und Funktionalit\u00e4t. Taktiles Messen sei universell und robust einsetzbar und die Unternehmen k\u00f6nnten auf gut ausgebildetes Personal setzen. Schw\u00e4chen des Verfahrens l\u00e4gen unter anderem im geringen Informationsgehalt der Messungen und den l\u00e4ngeren Messzeiten. Die Normung sei ausgereift, aber so kompliziert, dass sie vom Konstrukteur und Anwender kaum mehr \u00fcberschaut werden kann<\/p>\n <\/p>\n F\u00fcr die fl\u00e4chenhaft optischen Verfahren sprechen der grosse Informationsgehalt und die kurzen Messzeiten. Sie erm\u00f6glichen gute Visualisierungsm\u00f6glichkeiten und damit bessere Auswertungen der Messergebnisse. Im Vergleich zu den taktilen st\u00fcnden die optischen Verfahren allerdings eher noch in einer \u00abFindungsphase\u00bb und konzentrierten sich auf Spezialbranchen. Auch in puncto Normung stehe man mit der ersten Generation der ISO 25178 noch am Anfang.<\/p>\n Kein harter Gegensatz<\/strong><\/p>\n <\/p>\n F\u00fcr den Praktiker stellt sich mehr und mehr die Frage: \u00abHeiligt der Zweck die Mittel?\u00bb Nach Tobias Hercke m\u00fcssen fl\u00e4chenhafte (optische) Messverfahren immer mehr bei der L\u00f6sung von Problemen helfen, die mit StandardMessverfahren nicht oder nur mit grossem Aufwand l\u00f6sbar sind. Absehbar sei, dass in Normung und Praxis Profil und Fl\u00e4che n\u00e4her \u00abzusammenr\u00fccken\u00bb. Zwar gelte f\u00fcr die Zukunft \u00abh\u00e4ufig wie bisher auch\u00bb mit vielen guten Messverfahren, doch sieht Hercke die Vorteile der optischen Oberfl\u00e4chenmesstechnik darin, dass mit fl\u00e4chenhaft und schnell messenden Verfahren zum Beispiel weitere Fortschritte bei der Lebensdauer von Motoren und Komponenten zu erwarten sind<\/p>\n Immer neu herausgefordert<\/strong><\/p>\n <\/p>\n Prof. Nikolaus Herres von der NTB gab einen \u00dcberblick \u00fcber die neuesten Verfahren der Beschichtungsmesstechnik. Sehr viele Bauteile und Produkte funktionieren dank Beschichtungen, von der einfachen T\u00fcrklinke \u00fcber den Bohrer bis zu komplizierten Leiterplatten, Sensoren, Gl\u00e4sern und Optiken. Durch Modifikationen k\u00f6nnen ihre Eigenschaften wesentlich verbessert werden. \u00abBeschichtung bedeutet Materialverbund\u00bb, stellte Nikolaus Herres fest und benannte damit gleich die Schwierigkeiten, vor denen geeignete Messverfahren stehen. Denn die Zielgr\u00f6ssen sind vielf\u00e4ltig: chemische Zusammensetzung, Rauheit, Schichtdicke, Por\u00f6sit\u00e4t, Eigenspannung, H\u00e4rte und Verschleiss, um nur einige zu nennen.<\/p>\n <\/p>\n Bei der Messung von Beschichtungen gelten besondere Bedingungen: Je nach Verfahren extrahiert eine Sonde Informationen<\/p>\n <\/p>\n Zweck heiligt die Mittel<\/strong><\/em><\/p>\n <\/p>\n aus unterschiedlichen \u00abTiefen\u00bb der Probe. Die Nachweisempfindlichkeit h\u00e4ngt vom Signalkontrast ab, die Unterdr\u00fcckung st\u00f6render Effekte kann zum Problem werden. Und eine gute \u00abOrtsaufl\u00f6sung\u00bb sei wichtig, wenn mikroskopische Defekte lokalisiert werden sollen<\/p>\n <\/p>\n Die vielen Zielgr\u00f6ssen erfordern unterschiedlichste Messverfahren. Herres: \u00abSie k\u00f6nnen \u2039speziell\u203a sein, weil der Grundwerkstoff immer mitspielt\u00bb. Und weil die Hersteller immer wieder neue Beschichtungen entwickeln, fordern sie die Messtechnik immer wieder von Neuem heraus: \u00abGut so\u00bb, meinte Prof. Nikolaus Herres dazu abschliessend<\/p>\n Viele Highlights<\/strong><\/p>\n <\/p>\n Ein H\u00f6hepunkt der Tagung war die Pr\u00e4sentation von Prof.Dr.Ing. Gerd J\u00e4ger (Technische Universit\u00e4t Ilmenau). J\u00e4ger gilt als einer der weltweit f\u00fchrenden Forscher in der Mikro- und Nanomesstechnik. Er stellte ein 3D-Koordinationsmessger\u00e4t vor, das Genauigkeiten von wenigen Nanometern erreicht. Ferner konnten sich die Teilnehmer \u00fcber neueste M\u00f6glichkeiten der Forschungsf\u00f6rderung informieren und diskutierten \u00fcber die Zukunft der Messtechnikausbildung in der Schweiz. Dies unter dem Eindruck, dass sich der Staat immer mehr aus der Ausbildung zur\u00fcckzieht und die Welt der Messtechnik immer komplexer wird. Dies wird zu immer mehr firmenfinanzierten, auf die Unternehmensbed\u00fcrfnisse zugeschnittenen Spezialausbildungen f\u00fchren, war die Meinung der Anwesenden<\/p>\n <\/p>\n Messtechnik-Generalisten, wie sie Prof. Claus Keferstein verk\u00f6rpert, k\u00f6nnten damit immer seltener werden. Der Tagungsleiter hat in den 19 Jahren als Dozent und Institutsleiter am NTB das Institut f\u00fcr Produktionsmesstechnik Werkstoffe und Optik (PWO) zu einem Ausbildungs- und Forschungszentrum mit heute 20 wissenschaftlichen Mitarbeitern aufgebaut. Jetzt ist er in den Ruhestand getreten, Prof. Dr. Ing. Andreas Ettemeyer wird offiziell sein Nachfolger. Die grosse Anerkennung f\u00fcr Claus Kefersteins Arbeit wurde durch den Erfolg seiner \u00abAbschieds\u00bb-Tagung einmal mehr best\u00e4tigt.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":" Zum f\u00fcnften Mal hat das Institut f\u00fcr Produktionsmesstechnik Werkstoffe und Optik (PWO) mit seinem Leiter Prof. Dr. Ing. Claus Keferstein die alle zwei Jahre stattfindende Tagung organisiert, diesmal unter dem Motto \u00abNeue Wege gehen \u2013 Werte schaffen\u00bb. Auf neues Terrain wagte sich auch der Veranstalter mit einem attraktiven Tagungskonzept. Parallel zu den […]<\/p>\n","protected":false},"author":66,"featured_media":12822,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[1],"tags":[4812],"class_list":["post-12756","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-unkategorisiert","tag-10-2013"],"acf":[],"yoast_head":"\n