![\"A](\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2021\/02\/Ueber-Computertomo-grafie-Normen-und-Automobilsport.jpg\")
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L'Istituto per la metrologia della produzione, la tecnologia dei materiali, l'ottica e la fotonica PWO alla NTB di Buchs \u00e8 considerato un centro svizzero di eccellenza per la tecnologia di misurazione e di prova di precisione orientata alle applicazioni e legata alla produzione di componenti e sistemi meccanici e ottici. Nei campi summenzionati, compresa l'area emergente della visione artificiale, l'istituto conduce ricerca applicata e sviluppo ed esegue servizi e lavori a contratto per terzi. Ogni due anni, la comunit\u00e0 nazionale di metrologia si riunisce a Buchs, nella Svizzera orientale. Quest'anno, la conferenza si \u00e8 concentrata sulla metrologia dimensionale non distruttiva, cio\u00e8 la tomografia computerizzata.<\/p>\n
Il progresso tecnologico richiede nuovi standard<\/strong> <\/p>\n Il Dr.-Ing. habil Ulrich Neu schaefer-Rube del Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB di Braunschweig ha trattato la norma ISO 10360 (precisione delle macchine di misura a coordinate). Anche qui, gli adattamenti ai nuovi sviluppi sono da aspettarsi o sono gi\u00e0 in corso. In particolare, le possibilit\u00e0 tecnologiche offerte dalla tomografia computerizzata per la metrologia saranno incorporate nella revisione (ISO 10260-11, in corso). Attualmente, le linee guida della VDI\/VDE (Associazione degli ingegneri tedeschi) continuano a fornire informazioni per l'attuazione dello standard nella pratica.<\/p>\n Possibilit\u00e0 e limiti della tomografia computerizzata<\/strong> <\/p>\n Roger Eggenberger della societ\u00e0 Units ha poi dimostrato i vantaggi concreti della tomografia computerizzata. Ha mostrato esempi di come i confronti target\/reale possono essere effettuati su componenti in plastica grazie alla rappresentabilit\u00e0 3D delle immagini CT. La valutazione delle deviazioni pu\u00f2 poi essere utilizzata per una correzione dell'utensile, per esempio nello stampaggio a iniezione. Con il supporto del software, i dati di misurazione CT possono essere utilizzati anche per il reverse engineering; i dati CAD possono essere derivati direttamente da una rappresentazione 3D di un componente.<\/p>\n <\/p>\n Rolf Kaufmann dell'EMPA ha parlato dei limiti della tomografia computerizzata. Tra le altre cose, ha menzionato i problemi che possono verificarsi in relazione alla radiazione diffusa (da circa 150 kV). Questi includono, per esempio, modelli di strisce inquietanti o restrizioni nel contrasto. Come possibile soluzione ha indicato la correzione computazionale dei dati, con la quale si pu\u00f2 produrre un'immagine a raggi X ugualmente \"ricalcolata\". Gli esperimenti mostrano l'idoneit\u00e0 di questo metodo, ma anche la sua dipendenza dal materiale. Inoltre, a seconda del materiale, pu\u00f2 verificarsi il cosiddetto \"indurimento del fascio\", causato dall'assorbimento dipendente dall'energia dei materiali. Anche questo problema deve essere corretto con il calcolo e in combinazione con l'energia scelta correttamente. Nel complesso, il fatto che la risoluzione, l'energia dei raggi X e la dimensione del campione siano correlati deve essere preso in considerazione, secondo la conclusione della presentazione.<\/p>\n Applicazioni di misurazione<\/strong> <\/p>\n Marco Boccadoro ha poi presentato le sfide metrologiche in relazione all'Industria 4.0 - ne abbiamo gi\u00e0 parlato in dettaglio nel numero 9-2017. L'interazione ottimale della tecnologia di misurazione e dell'apprendimento automatico significa che in futuro, i processi di produzione possono funzionare con molto meno intervento umano, aumentando cos\u00ec l'affidabilit\u00e0 della produzione, \u00e8 stata la conclusione della sua presentazione.<\/p>\n <\/p>\n Infine, Hannes Gautschi, Direttore After Sales di Toyota AG, ha \"portato\" il pubblico nel mondo dell'automobile, in particolare nelle corse. Ha mostrato come i parametri essenziali possono essere registrati sul veicolo utilizzando una sofisticata tecnologia di misurazione (misurazione \"a bordo\"). Attraverso l'analisi dei dati, si determinano i valori ottimali, che possono poi essere responsabili del successo delle corse. Ha cos\u00ec dimostrato che i dispositivi di misurazione possono fare la differenza tra i centesimi di secondo.<\/p>\n <\/p>\n Nella mostra di accompagnamento, gli specialisti della tecnologia di misurazione hanno presentato prodotti e soluzioni per una serie di argomenti discussi nelle conferenze. <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>\n <\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":" Das Institut f\u00fcr Produktionsmesstechnik, Werkstofftechnik, Optik und Photonik PWO an der NTB in Buchs gilt als Schweizer Kom-petenzzentrum f\u00fcr anwendungsorientierte, fertigungsnahe Pr\u00e4zisions- Mess- und Pr\u00fcf-technik von mechanischen und optischen Komponenten und Systemen. In den genann-ten Fachgebieten einschliesslich dem aufstre-benden Bereich Machine Vision betreibt das Institut Angewandte Forschung und Ent-wicklung und f\u00fchrt Dienstleitungen […]<\/p>\n","protected":false},"author":62,"featured_media":11604,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[4448],"tags":[4780],"class_list":["post-11588","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-allgemein","tag-10-2017"],"acf":[],"yoast_head":"\n
\nPrima, per\u00f2, l'attenzione si \u00e8 concentrata su standard e linee guida. Nella stessa occasione del 2013, \u00e8 stata data una relazione sulle prossime modifiche alla ISO 21920-1 (Specifiche geometriche di prodotto) e i loro effetti sulla metrologia delle superfici. Il Prof. Dr.-Ing. J\u00f6rg Seewig dell'Universit\u00e0 Tecnica di Kaiserslautern, che \u00e8 membro della commissione delle norme ISO responsabile di questo emendamento, ha fornito una panoramica dettagliata dello stato dei lavori e ha sottolineato alcune delle innovazioni che la norma del profilo - che dovrebbe entrare in vigore nel 2020 - porter\u00e0 con s\u00e9. Essenzialmente, ci saranno una serie di semplificazioni (ad esempio, la definizione di parametri come Rz sar\u00e0 basata su picchi e valli del profilo, il che porter\u00e0 a una dispersione statisticamente minore) e standardizzazioni (ci saranno impostazioni predefinite per molti parametri). In futuro, la calibrazione degli strumenti di misura sar\u00e0 orientata alla pratica secondo la norma ISO 25178.<\/p>\n
\nLa seconda sessione ha trattato specificamente la tomografia computerizzata come metodo per la misurazione dimensionale. In primo luogo, il Dr. Benja-min Bircher di Metas ha presentato la funzione di un tomografo computerizzato per applicazioni industriali. I vantaggi della tomografia computerizzata sono evidenti, soprattutto per la misurazione di geometrie interne e inaccessibili o per la misurazione di interi gruppi, come il movimento di un orologio. Tuttavia, la densit\u00e0 di alcuni materiali limita l'uso dei raggi X, e bisogna anche tenere conto dell'elevato volume di dati - a seconda della risoluzione. La misurazione classica delle coordinate \u00e8 ancora pi\u00f9 accurata, e mancano (ancora) degli standard per l'uso industriale della tomografia computerizzata. Tuttavia, l'interesse da parte dell'industria sta aumentando; la tendenza si sta spostando verso sistemi di misurazione in linea, per esempio, per essere in grado di effettuare misurazioni direttamente sui processi in corso.<\/p>\n
\nnell'industria 4.0 - e nelle corse automobilistiche
\nAncora una volta, la conferenza del Dipl.-Ing. Fran\u00e7ois Torner del TU Kaiserslautern ha affrontato le possibilit\u00e0 concrete di applicazione della tomografia computerizzata. Ha classificato il metodo nella tecnologia classica di misurazione delle coordinate e ha dimostrato che la CT pu\u00f2 essere utilizzata con successo per le misurazioni di microstrutture e rugosit\u00e0. Tuttavia, l'oratore ha anche sottolineato che sono ancora necessari ulteriori esperimenti, soprattutto per le misure di rugosit\u00e0, dato che tali misure con la TAC sono ancora difficili, in particolare per i componenti di grandi dimensioni.<\/p>\n
\nmenzionate aree di applicazione.<\/p>\n