![\"La](\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2021\/02\/Messtechnik-lebt.jpg\")
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Z<\/strong><\/em>er la quinta volta, l'Istituto di Metrologia della Produzione Materiali e Ottica (PWO) e il suo direttore Prof. Dr. Ing. Claus Keferstein hanno organizzato la conferenza biennale, questa volta sotto il motto \"Taking new paths - creating value\". L'organizzatore si \u00e8 anche avventurato in un nuovo territorio con un concetto di conferenza attraente. Parallelamente alle conferenze specialistiche, si \u00e8 tenuta un'esposizione che quasi si avvicina all'importanza della fiera \"Prodex\" di Basilea. La lista degli espositori comprendeva 54 produttori leader di tecnologia di misurazione. La novit\u00e0 di quest'anno \u00e8 stata che il secondo giorno della conferenza gli stessi espositori hanno tenuto brevi presentazioni, incontri con gli utenti e presentato i loro prodotti - per i visitatori specializzati, tecnici di misurazione provenienti da Svizzera, Austria e Germania, una piattaforma ideale per approfondire le loro conoscenze<\/p>\n <\/p>\n Le numerose presentazioni tecniche si sono concentrate su argomenti come la metrologia delle coordinate e delle superfici, la metrologia dei rivestimenti e l'ottimizzazione dei processi. Introdotto da relazioni sulle tendenze attuali, sono seguite spiegazioni approfondite da parte di specialisti in workshop paralleli.<\/p>\n Praticamente richiesto<\/strong><\/p>\n <\/p>\n Nella sua introduzione, il Prof. Claus Keferstein \u00e8 andato dritto al punto e ha chiesto: \"La misurazione veloce e accurata \u00e8 economica e quella orientata al processo \u00e8 costosa? O sono complementari? A volte avete bisogno di misurare rapidamente, ma non in modo accurato?\". Domande, in altre parole, che occupano quotidianamente i praticanti. Keferstein ha raddoppiato sul<\/p>\n <\/p>\n L'imbarazzo della scelta<\/strong><\/em><\/p>\n <\/p>\n triangolo magico QM dopo: \"Non si pu\u00f2 avere tutto, se si vuole che la qualit\u00e0 sia alta, allora costa denaro e si ha bisogno di tempo. Se faccio abbassare la qualit\u00e0, posso ridurre i costi o accorciare i tempi. O se ho bisogno di misurare pi\u00f9 velocemente, allora costa, ma non posso avere tutti e tre\".<\/p>\n <\/p>\n Tali contraddizioni sono di notevole rilevanza per la tecnologia di misurazione nelle piante. Devono chiedersi costantemente: dove hai bisogno di cosa? Il cliente esige pezzi buoni al 100%. Allo stesso tempo, la pressione sui costi sta aumentando a causa di un cambio e una produzione pi\u00f9 veloci, e i tempi di consegna stanno diventando sempre pi\u00f9 brevi con lotti di dimensioni pi\u00f9 piccole. Tutto questo ha un impatto enorme sullo sforzo di misurazione e di ispezione. In sostanza, secondo Keferstein, \u00e8 il tipo di processo di ispezione che determina come il tecnico di metrologia pu\u00f2 svolgere i suoi compiti. Oggi ha l'imbarazzo della scelta. Macchine di misura a coordinate e a pi\u00f9 posizioni, macchine di misura di superfici e superfici di riferimento, controllo della lunghezza: coprono un'ampia gamma tra precisione, velocit\u00e0 e convenienza.<\/p>\n <\/p>\n Cosa significa \"esattamente\"?<\/strong><\/em><\/p>\n <\/p>\n I compiti possono essere affrontati in modo pi\u00f9 rilassato se si esamina il termine \"accuratezza\", ha detto Keferstein. Fondamentalmente, si tratta di assicurare una funzione. Per questa caratteristica funzionale si cerca una caratteristica di prova adatta. Le ambiguit\u00e0 sono disastrose. A cosa servono innumerevoli dati di misurazione se il prodotto non funziona ancora? Keferstein: \"La correlazione tra la caratteristica del test e la caratteristica funzionale deve essere corretta, e poi viene la seconda domanda, cio\u00e8 come posso misurare questa caratteristica del test?<\/p>\n <\/p>\n La distinzione tra precisione assoluta e ripetibilit\u00e0 gioca qui un ruolo importante. La precisione assoluta \u00e8 usata per l'accettazione da parte del cliente, le propriet\u00e0 assicurate del prodotto sono controllate. Oltre a uno standard tracciabile, questo richiede una conoscenza precisa delle condizioni ambientali come la temperatura e le vibrazioni, perch\u00e9 queste hanno un'influenza sull'incertezza di misura. E questo \u00e8 sempre \"specifico al compito\", dice Keferstein. L'asticella \u00e8 posta in alto per le misurazioni assolute: devono essere riproducibili in tutto il mondo, cio\u00e8 devono essere altrettanto valide alla VW in Brasile che nello stabilimento principale di Wolfsburg.<\/p>\n <\/p>\n Il caso \u00e8 diverso per la ripetibilit\u00e0. Qui non si pu\u00f2 parlare di incertezza di misura. Keferstein: \"Qui guardo solo il processo. Si tratta di quanto sia stabile il processo, e questa \u00e8 una questione specifica dell'azienda\". Una volta che il processo \u00e8 impostato, la ripetibilit\u00e0 pu\u00f2 essere usata per determinare facilmente ed economicamente se un pezzo o la sua caratteristica funzionale sta andando alla deriva.<\/p>\n Misura in produzione<\/strong><\/p>\n <\/p>\n La tendenza a portare la tecnologia di misurazione sempre pi\u00f9 vicino alla produzione \u00e8 aumentata enormemente negli ultimi anni. La classica sala di misurazione lontana dal processo diretto probabilmente giocher\u00e0 solo un ruolo minore in futuro. Keferstein ha mostrato molti esempi di applicazioni pratiche: Per la tecnologia di misurazione nel processo di produzione, misurazione sul processo, misurazione vicino al processo per controlli a campione e specifiche.<\/p>\n <\/p>\n Kefstein vede la sfida dei prossimi anni nei processi di test nella produzione, perch\u00e9 in questo settore si pu\u00f2 misurare in modo assoluto o anche con precisione ripetitiva. Sempre pi\u00f9 metodi di misurazione moderni cercano qui soluzioni ottimali. Che si tratti di sensori ottici, di luce diffusa o di equatore, di misurazioni fuori asse su macchine utensili o di design speciali orientati al processo delle macchine di misura a coordinate, la conclusione di Keferstein \u00e8 che alta qualit\u00e0, tempi estremamente brevi nel processo e basso costo non devono pi\u00f9 essere una contraddizione convincente: \"Basta usare la giusta strategia e i giusti metodi di misurazione\". Oggi, il know-how metrologico \u00e8 la chiave per prodotti economici e di alta qualit\u00e0.<\/p>\n <\/p>\n Tattile o visivo?<\/strong><\/p>\n <\/p>\n Tobias Hercke, responsabile della metrologia delle superfici alla Daimler AG, ha parlato delle tendenze della metrologia delle superfici. Dal punto di vista dell'utente, \u00e8 importante che la superficie di un componente svolga la sua funzione. Il compito principale della metrologia \u00e8 quindi quello di garantire che la superficie abbia una relazione funzionale.<\/p>\n <\/p>\n Sulla base della sua lunga esperienza, Hercke ha sviluppato la sua \"propria filosofia\": \"Una superficie consiste nella somma dei suoi elementi strutturali. Per cui ai rialzi, alle scanalature e alle depressioni vengono assegnate determinate propriet\u00e0, verticalmente e lateralmente nella gamma dei \u00b5m. Ha sottolineato che ha sempre fatto bene con questo.<\/p>\n <\/p>\n Nella sua conferenza, si \u00e8 concentrato sulla questione se sia vantaggiosa la misurazione basata sul profilo o sull'area, cio\u00e8 tattile o ottica. In un inventario<\/p>\n <\/p>\n Profilato \u00e8 lo standard<\/strong><\/em><\/p>\n <\/p>\n ha confrontato i punti di forza e di debolezza di entrambi i metodi. Dal punto di vista dell'utente, la misurazione basata sul profilo \u00e8 un \"metodo di misurazione pane e burro\", la base per valutare la qualit\u00e0 e la funzionalit\u00e0 in molti settori dell'industria. La misurazione tattile \u00e8 universalmente e solidamente applicabile e le aziende possono contare su personale ben addestrato. I punti deboli del metodo includono il basso contenuto informativo delle misurazioni e i tempi di misurazione pi\u00f9 lunghi. La standardizzazione \u00e8 matura, ma cos\u00ec complicata che difficilmente pu\u00f2 essere trascurata dal designer e dall'utente.<\/p>\n <\/p>\n Il grande contenuto informativo e i brevi tempi di misurazione parlano a favore dei metodi ottici areali. Permettono buone possibilit\u00e0 di visualizzazione e quindi una migliore valutazione dei risultati di misurazione. Rispetto ai metodi tattili, tuttavia, i metodi ottici sono ancora in una \"fase di scoperta\" e sono concentrati su industrie speciali. In termini di standardizzazione, la prima generazione di ISO 25178 \u00e8 ancora all'inizio.<\/p>\n Non \u00e8 un contrasto difficile<\/strong><\/p>\n <\/p>\n Per il professionista, si pone sempre pi\u00f9 la domanda: \"Il fine giustifica i mezzi? Secondo Tobias Hercke, i metodi di misurazione della superficie (ottica) devono aiutare sempre pi\u00f9 a risolvere problemi che non possono essere risolti con i metodi di misurazione standard, o solo con grande sforzo. \u00c8 prevedibile che nella standardizzazione e nella pratica profilo e superficie si \"avvicineranno\". Anche se il futuro vedr\u00e0 \"spesso lo stesso di prima\" con molti buoni metodi di misura, Hercke vede i vantaggi della metrologia ottica delle superfici nel fatto che, per esempio, ci si pu\u00f2 aspettare un ulteriore progresso nella vita utile di motori e componenti con metodi che misurano rapidamente le superfici.<\/p>\n Sempre sfidato di nuovo<\/strong><\/p>\n <\/p>\n Il Prof. Nikolaus Herres della NTB ha fornito una panoramica delle ultime tecniche di misurazione del rivestimento. Moltissimi componenti e prodotti funzionano grazie ai rivestimenti, da semplici maniglie di porte e trapani a complicati circuiti stampati, sensori, occhiali e ottiche. Le modifiche possono migliorare significativamente le loro propriet\u00e0. \"Rivestire significa legare il materiale\", ha notato Nikolaus Herres, nominando cos\u00ec immediatamente le difficolt\u00e0 incontrate dai metodi di misurazione adeguati. Dopo tutto, le variabili obiettivo sono molteplici: composizione chimica, rugosit\u00e0, spessore dello strato, porosit\u00e0, stress residuo, durezza e usura, per nominarne solo alcune.<\/p>\n <\/p>\n Si applicano condizioni speciali quando si misurano i rivestimenti: A seconda del metodo, una sonda estrae informazioni<\/p>\n <\/p>\n Il fine giustifica i mezzi<\/strong><\/em><\/p>\n <\/p>\n da diverse \"profondit\u00e0\" del campione. La sensibilit\u00e0 di rilevamento dipende dal contrasto del segnale, e la soppressione degli effetti interferenti pu\u00f2 diventare un problema. E una buona \"risoluzione spaziale\" \u00e8 importante se i difetti microscopici devono essere localizzati<\/p>\n <\/p>\n Le molte variabili target richiedono un'ampia variet\u00e0 di metodi di misurazione. Herres: \"Possono essere 'speciali' perch\u00e9 il materiale di base sta sempre al gioco\". E poich\u00e9 i produttori sviluppano sempre nuovi rivestimenti, sfidano sempre di nuovo la tecnologia di misurazione: \"Questa \u00e8 una buona cosa\", ha detto in conclusione il Prof. Nikolaus Herres.<\/p>\n Molti punti salienti<\/strong><\/p>\n <\/p>\n Un punto culminante della conferenza \u00e8 stata la presentazione del Prof.Dr.Ing. Gerd J\u00e4ger (Ilmenau University of Technology). J\u00e4ger \u00e8 considerato uno dei principali ricercatori del mondo in micro e nanometrologia. Ha presentato un dispositivo di misurazione della coordinazione 3D che raggiunge una precisione di pochi nanometri. I partecipanti hanno anche potuto informarsi sulle ultime opportunit\u00e0 di finanziamento della ricerca e hanno discusso il futuro della formazione in metrologia in Svizzera. Con l'impressione che lo Stato si ritiri sempre pi\u00f9 dalla formazione e che il mondo della metrologia diventi sempre pi\u00f9 complesso. Questo porter\u00e0 a sempre pi\u00f9 formazione speciale finanziata dall'azienda e adattata ai bisogni dell'azienda, \u00e8 stata l'opinione dei presenti<\/p>\n <\/p>\n I generalisti della tecnologia di misurazione, come il Prof. Claus Keferstein, potrebbero quindi diventare sempre pi\u00f9 rari. Nei suoi 19 anni come docente e direttore d'istituto alla NTB, il direttore della conferenza ha costruito l'Istituto di Metrologia dei Materiali e dell'Ottica di Produzione (PWO) in un centro di formazione e di ricerca che conta oggi 20 collaboratori scientifici. Ora si \u00e8 ritirato e il Prof. Dr. Ing. Andreas Ettemeyer diventer\u00e0 ufficialmente il suo successore. Il grande apprezzamento per il lavoro di Claus Keferstein \u00e8 stato confermato ancora una volta dal successo della sua conferenza d'addio.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":" Zum f\u00fcnften Mal hat das Institut f\u00fcr Produktionsmesstechnik Werkstoffe und Optik (PWO) mit seinem Leiter Prof. Dr. Ing. Claus Keferstein die alle zwei Jahre stattfindende Tagung organisiert, diesmal unter dem Motto \u00abNeue Wege gehen \u2013 Werte schaffen\u00bb. Auf neues Terrain wagte sich auch der Veranstalter mit einem attraktiven Tagungskonzept. Parallel zu den […]<\/p>\n","protected":false},"author":66,"featured_media":12822,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[1],"tags":[4812],"class_list":["post-12756","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-unkategorisiert","tag-10-2013"],"acf":[],"yoast_head":"\n