{"id":22537,"date":"2026-03-04T09:45:48","date_gmt":"2026-03-04T08:45:48","guid":{"rendered":"https:\/\/www.m-q.ch\/?p=22537"},"modified":"2026-03-04T09:45:48","modified_gmt":"2026-03-04T08:45:48","slug":"migliore-rilevamento-della-contaminazione-dei-wafer","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/migliore-rilevamento-della-contaminazione-dei-wafer\/","title":{"rendered":"Migliore rilevamento della contaminazione dei wafer"},"content":{"rendered":"
\"\"
Tubo di scansione con goccia trasportata mentre il wafer ruota per l'analisi della superficie. (Immagine: Fraunhofer IPMS)<\/figcaption><\/figure>\n

I wafer sono sottili dischi circolari di materiale semiconduttore che servono come base per la produzione di microchip e altri componenti elettronici. La qualit\u00e0 e la purezza della superficie dei wafer sono decisive per la funzionalit\u00e0 e le prestazioni dei prodotti finali. Per rilevare e quantificare la contaminazione si utilizzano diversi metodi di caratterizzazione. Questi metodi sono stati ora ampliati presso il Fraunhofer IPMS per includere l'analisi degli elementi in ultra-traccia. Dopo l'incisione di wafer da 200 o 300 mm con vapori di HF (acido fluoridrico), una goccia viene applicata alla superficie del wafer e spostata su di essa. La goccia raccoglie i residui solubili presenti sulla superficie e viene poi riempita fino a un volume di 1 ml. Gli elementi disciolti vengono quindi analizzati con la spettrometria di massa al plasma ad accoppiamento induttivo (ICP-MS). Questo metodo fornisce informazioni quantitative precise sugli elementi disciolti sulla superficie del wafer.<\/p>\n

L'analisi degli elementi in ultra-traccia offre ampie possibilit\u00e0: Ad esempio, \u00e8 possibile eseguire scansioni superficiali e smussate per analizzare 39 elementi con la soluzione di scansione HF, che consente una caratterizzazione dettagliata della superficie del wafer. Per applicazioni speciali, l'acqua regia pu\u00f2 essere utilizzata anche come soluzione di scansione per cinque metalli preziosi.<\/p>\n

Attrezzature di laboratorio presso il Fraunhofer IPMS<\/strong><\/h3>\n

Il laboratorio \u00e8 dotato di attrezzature all'avanguardia, tra cui il sistema VPD Wafer Surface Preparation System WSPS2 di PVA Tepla e lo spettrometro di massa iCap RQ di Thermo Scientific. Queste tecnologie consentono una caratterizzazione precisa e una garanzia di qualit\u00e0 nell'industria dei semiconduttori. Con questa espansione, il Fraunhofer IPMS consolida la sua posizione di istituto di ricerca leader nel campo della lavorazione dei wafer da 300 mm e contribuisce a migliorare la qualit\u00e0 della produzione nella fabbricazione dei semiconduttori.<\/p>\n

Fonte: Fraunhofer IPMS<\/a><\/em><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Il Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems IPMS sta ampliando le proprie capacit\u00e0 analitiche nel campo della contaminazione dei wafer. In un laboratorio dedicato, il metodo consolidato della decomposizione in fase vapore viene utilizzato in combinazione con la spettrometria di massa con plasma ad accoppiamento induttivo (VPD-ICP-MS). Ci\u00f2 consente un monitoraggio preciso della contaminazione della superficie dei wafer. <\/p>","protected":false},"author":10,"featured_media":22538,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[3303],"tags":[3591,5295,5941,3327,5940],"class_list":["post-22537","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-qualitaetsmanagement","tag-fraunhofer","tag-labortechnik","tag-mikroelektronik","tag-qualitaetsmanagement","tag-waferherstellung"],"acf":[],"yoast_head":"\nKontamination von Wafern besser erkennen - MQ Management und Qualit\u00e4t<\/title>\n<meta name=\"description\" content=\"Das Fraunhofer-Institut f\u00fcr Photonische Mikrosysteme IPMS erweitert seine Analysef\u00e4higkeiten im Bereich der Waferkontamination.\" \/>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/migliore-rilevamento-della-contaminazione-dei-wafer\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"it_IT\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Kontamination von Wafern besser erkennen\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Das Fraunhofer-Institut f\u00fcr Photonische Mikrosysteme IPMS erweitert seine Analysef\u00e4higkeiten im Bereich der Waferkontamination.\" \/>\n<meta property=\"og:url\" content=\"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/migliore-rilevamento-della-contaminazione-dei-wafer\/\" \/>\n<meta property=\"og:site_name\" content=\"MQ Management und Qualit\u00e4t\" \/>\n<meta property=\"article:publisher\" content=\"https:\/\/www.facebook.com\/ManagementUndQualitaet\" \/>\n<meta property=\"article:published_time\" content=\"2026-03-04T08:45:48+00:00\" \/>\n<meta property=\"og:image\" content=\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:width\" content=\"680\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:height\" content=\"510\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:type\" content=\"image\/jpeg\" \/>\n<meta name=\"author\" content=\"Thomas Berner\" \/>\n<meta name=\"twitter:card\" content=\"summary_large_image\" \/>\n<meta name=\"twitter:title\" content=\"#Kontamination von #Wafern besser erkennen\" \/>\n<meta name=\"twitter:description\" content=\"Das Fraunhofer-Institut f\u00fcr Photonische Mikrosysteme #IPMS erweitert seine Analysef\u00e4higkeiten im Bereich der #Waferkontamination.\" \/>\n<meta name=\"twitter:image\" content=\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg\" \/>\n<meta name=\"twitter:label1\" content=\"Scritto da\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:data1\" content=\"Thomas Berner\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:label2\" content=\"Tempo di lettura stimato\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:data2\" content=\"2 minuti\" \/>\n<script type=\"application\/ld+json\" class=\"yoast-schema-graph\">{\"@context\":\"https:\/\/schema.org\",\"@graph\":[{\"@type\":\"Article\",\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#article\",\"isPartOf\":{\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/\"},\"author\":{\"name\":\"Thomas Berner\",\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#\/schema\/person\/a8711938b1cfb3f056dec70eaa0b42ab\"},\"headline\":\"Kontamination von Wafern besser erkennen\",\"datePublished\":\"2026-03-04T08:45:48+00:00\",\"mainEntityOfPage\":{\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/\"},\"wordCount\":297,\"publisher\":{\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#organization\"},\"image\":{\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#primaryimage\"},\"thumbnailUrl\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg\",\"keywords\":[\"Fraunhofer\",\"Labortechnik\",\"Mikroelektronik\",\"Qualit\u00e4tsmanagement\",\"Waferherstellung\"],\"articleSection\":[\"Qualit\u00e4tsmanagement\"],\"inLanguage\":\"it-IT\"},{\"@type\":\"WebPage\",\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/\",\"url\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/\",\"name\":\"Kontamination von Wafern besser erkennen - MQ Management und Qualit\u00e4t\",\"isPartOf\":{\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#website\"},\"primaryImageOfPage\":{\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#primaryimage\"},\"image\":{\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#primaryimage\"},\"thumbnailUrl\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg\",\"datePublished\":\"2026-03-04T08:45:48+00:00\",\"description\":\"Das Fraunhofer-Institut f\u00fcr Photonische Mikrosysteme IPMS erweitert seine Analysef\u00e4higkeiten im Bereich der Waferkontamination.\",\"breadcrumb\":{\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#breadcrumb\"},\"inLanguage\":\"it-IT\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"ReadAction\",\"target\":[\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/\"]}]},{\"@type\":\"ImageObject\",\"inLanguage\":\"it-IT\",\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#primaryimage\",\"url\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg\",\"contentUrl\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg\",\"width\":680,\"height\":510,\"caption\":\"Scanr\u00f6hrchen mit mitgef\u00fchrtem Tropfen bei gleichzeitig drehendem Wafer f\u00fcr Oberfl\u00e4chenanalyse. (Bild: Fraunhofer IPMS)\"},{\"@type\":\"BreadcrumbList\",\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#breadcrumb\",\"itemListElement\":[{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":1,\"name\":\"Qualit\u00e4tsmanagement\",\"item\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/kategorie\/qualitaetsmanagement\/\"},{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":2,\"name\":\"Kontamination von Wafern besser erkennen\"}]},{\"@type\":\"WebSite\",\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#website\",\"url\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/\",\"name\":\"MQ Management und Qualit\u00e4t\",\"description\":\"Plattform f\u00fcr integrierte Managementsysteme.\",\"publisher\":{\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#organization\"},\"potentialAction\":[{\"@type\":\"SearchAction\",\"target\":{\"@type\":\"EntryPoint\",\"urlTemplate\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/?s={search_term_string}\"},\"query-input\":{\"@type\":\"PropertyValueSpecification\",\"valueRequired\":true,\"valueName\":\"search_term_string\"}}],\"inLanguage\":\"it-IT\"},{\"@type\":\"Organization\",\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#organization\",\"name\":\"Galledia Fachmedien AG\",\"url\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/\",\"logo\":{\"@type\":\"ImageObject\",\"inLanguage\":\"it-IT\",\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#\/schema\/logo\/image\/\",\"url\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2020\/12\/cropped-logo_small.png\",\"contentUrl\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2020\/12\/cropped-logo_small.png\",\"width\":512,\"height\":512,\"caption\":\"Galledia Fachmedien AG\"},\"image\":{\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#\/schema\/logo\/image\/\"},\"sameAs\":[\"https:\/\/www.facebook.com\/ManagementUndQualitaet\",\"https:\/\/www.linkedin.com\/showcase\/17982321\/admin\/\"]},{\"@type\":\"Person\",\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#\/schema\/person\/a8711938b1cfb3f056dec70eaa0b42ab\",\"name\":\"Thomas Berner\",\"image\":{\"@type\":\"ImageObject\",\"inLanguage\":\"it-IT\",\"@id\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#\/schema\/person\/image\/\",\"url\":\"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/faea7857408f70478f976d576da10f96?s=96&d=mm&r=g\",\"contentUrl\":\"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/faea7857408f70478f976d576da10f96?s=96&d=mm&r=g\",\"caption\":\"Thomas Berner\"},\"url\":\"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/author\/thomas-berner\/\"}]}<\/script>\n<!-- \/ Yoast SEO plugin. -->","yoast_head_json":{"title":"Migliore rilevamento della contaminazione dei wafer - Gestione MQ e qualit\u00e0","description":"L'Istituto Fraunhofer per i microsistemi fotonici IPMS sta ampliando le proprie capacit\u00e0 analitiche nel campo della contaminazione dei wafer.","robots":{"index":"index","follow":"follow","max-snippet":"max-snippet:-1","max-image-preview":"max-image-preview:large","max-video-preview":"max-video-preview:-1"},"canonical":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/migliore-rilevamento-della-contaminazione-dei-wafer\/","og_locale":"it_IT","og_type":"article","og_title":"Kontamination von Wafern besser erkennen","og_description":"Das Fraunhofer-Institut f\u00fcr Photonische Mikrosysteme IPMS erweitert seine Analysef\u00e4higkeiten im Bereich der Waferkontamination.","og_url":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/migliore-rilevamento-della-contaminazione-dei-wafer\/","og_site_name":"MQ Management und Qualit\u00e4t","article_publisher":"https:\/\/www.facebook.com\/ManagementUndQualitaet","article_published_time":"2026-03-04T08:45:48+00:00","og_image":[{"width":680,"height":510,"url":"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg","type":"image\/jpeg"}],"author":"Thomas Berner","twitter_card":"summary_large_image","twitter_title":"#Kontamination von #Wafern besser erkennen","twitter_description":"Das Fraunhofer-Institut f\u00fcr Photonische Mikrosysteme #IPMS erweitert seine Analysef\u00e4higkeiten im Bereich der #Waferkontamination.","twitter_image":"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg","twitter_misc":{"Scritto da":"Thomas Berner","Tempo di lettura stimato":"2 minuti"},"schema":{"@context":"https:\/\/schema.org","@graph":[{"@type":"Article","@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#article","isPartOf":{"@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/"},"author":{"name":"Thomas Berner","@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#\/schema\/person\/a8711938b1cfb3f056dec70eaa0b42ab"},"headline":"Kontamination von Wafern besser erkennen","datePublished":"2026-03-04T08:45:48+00:00","mainEntityOfPage":{"@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/"},"wordCount":297,"publisher":{"@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#organization"},"image":{"@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#primaryimage"},"thumbnailUrl":"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg","keywords":["Fraunhofer","Labortechnik","Mikroelektronik","Qualit\u00e4tsmanagement","Waferherstellung"],"articleSection":["Qualit\u00e4tsmanagement"],"inLanguage":"it-IT"},{"@type":"WebPage","@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/","url":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/","name":"Migliore rilevamento della contaminazione dei wafer - Gestione MQ e qualit\u00e0","isPartOf":{"@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#website"},"primaryImageOfPage":{"@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#primaryimage"},"image":{"@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#primaryimage"},"thumbnailUrl":"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg","datePublished":"2026-03-04T08:45:48+00:00","description":"L'Istituto Fraunhofer per i microsistemi fotonici IPMS sta ampliando le proprie capacit\u00e0 analitiche nel campo della contaminazione dei wafer.","breadcrumb":{"@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#breadcrumb"},"inLanguage":"it-IT","potentialAction":[{"@type":"ReadAction","target":["https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/"]}]},{"@type":"ImageObject","inLanguage":"it-IT","@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#primaryimage","url":"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg","contentUrl":"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/Kontamination-von-Wafern-besser-erkennen_MQ.jpg","width":680,"height":510,"caption":"Scanr\u00f6hrchen mit mitgef\u00fchrtem Tropfen bei gleichzeitig drehendem Wafer f\u00fcr Oberfl\u00e4chenanalyse. (Bild: Fraunhofer IPMS)"},{"@type":"BreadcrumbList","@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/kontamination-von-wafern-besser-erkennen\/#breadcrumb","itemListElement":[{"@type":"ListItem","position":1,"name":"Qualit\u00e4tsmanagement","item":"https:\/\/www.m-q.ch\/kategorie\/qualitaetsmanagement\/"},{"@type":"ListItem","position":2,"name":"Kontamination von Wafern besser erkennen"}]},{"@type":"WebSite","@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#website","url":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/","name":"Gestione e qualit\u00e0 MQ","description":"Piattaforma per sistemi di gestione integrati.","publisher":{"@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#organization"},"potentialAction":[{"@type":"SearchAction","target":{"@type":"EntryPoint","urlTemplate":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/?s={search_term_string}"},"query-input":{"@type":"PropertyValueSpecification","valueRequired":true,"valueName":"search_term_string"}}],"inLanguage":"it-IT"},{"@type":"Organization","@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#organization","name":"Galledia Fachmedien AG","url":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/","logo":{"@type":"ImageObject","inLanguage":"it-IT","@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#\/schema\/logo\/image\/","url":"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2020\/12\/cropped-logo_small.png","contentUrl":"https:\/\/www.m-q.ch\/wp-content\/uploads\/2020\/12\/cropped-logo_small.png","width":512,"height":512,"caption":"Galledia Fachmedien AG"},"image":{"@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#\/schema\/logo\/image\/"},"sameAs":["https:\/\/www.facebook.com\/ManagementUndQualitaet","https:\/\/www.linkedin.com\/showcase\/17982321\/admin\/"]},{"@type":"Person","@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#\/schema\/person\/a8711938b1cfb3f056dec70eaa0b42ab","name":"Thomas Bernard","image":{"@type":"ImageObject","inLanguage":"it-IT","@id":"https:\/\/www.m-q.ch\/fr\/#\/schema\/person\/image\/","url":"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/faea7857408f70478f976d576da10f96?s=96&d=mm&r=g","contentUrl":"https:\/\/secure.gravatar.com\/avatar\/faea7857408f70478f976d576da10f96?s=96&d=mm&r=g","caption":"Thomas Berner"},"url":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/author\/thomas-berner\/"}]}},"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22537","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/users\/10"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=22537"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22537\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":22539,"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/22537\/revisions\/22539"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media\/22538"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=22537"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=22537"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.m-q.ch\/it\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=22537"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}